测量晶振振荡频率差异的方法
来源：http://m.hneyq.com 作者：亿金电子 2019年08月16
亿金电子专业生产销售石英晶体,SMD晶振,除了优异的产品,亿金电子也免费提供晶振技术资料以及产品解决方案.以下是亿金电子介绍的测量晶振振荡频率差异的方法.
如先前所介绍的(晶振振荡频率差概述),振荡频率的差异由下式表示,因此测量目标是a和b.
dF：电路上的晶体振荡器振荡频率与参考频率
F 之间的差值：参考频率
a：指定负载电容下的晶体振荡器振荡频率CL
b：电路上的 晶体振荡器振荡频率
1、“a：在指定负载容量CL下的晶体振荡器振荡频率”的测量方法
<概述>使用
网络分析仪和负载容量CL夹具,以下测量程序(当NDK晶体振荡器安装在基板上时*按照步骤1)测量实验晶体单元的频率.
(*1)如果板上没有安装NDK晶振产品,请准备适当的NDK晶体单元并将其用作实验晶体单元.
<测量程序>
(1)用烙铁拆下安装在电路板上的石英贴片晶振单元.
(2)去除附着在石英晶体单元上的多余焊料后,等到晶体单元达到室温.
(3)将晶体单元设置在负载容量CL jig中(负载容量CL jig的容量是规格中指定的负载容量CL).
(4)在网络分析仪上设置负载容量CL jig,并根据网络分析仪手册测量晶体单元的频率.
2、“b：电路上的晶体振荡器振荡频率”的测量方法
<概述>将实验石英晶振,晶体振荡器安装在基板上,并且使用以下测量程序在指定的温度条件下测量振荡频率.
<测量程序>
(1)使用烙铁等将实验晶振晶体单元安装在基板上.
(2)在将晶体单元及其周围环境稳定在指定温度之后,晶体单元振荡,并且天线以非接触方式获取振荡信号*2.
(3)由天线扩展的振荡信号由放大器放大到可由频率计数器稳定测量的信号电平.
(4)用频率计测量晶振晶体的振荡频率.
(*2)当通过使电压探针与振荡电路接触来测量振荡频率时,电压探针的电容增加并且振荡电路电容改变,这影响振荡频率.NDK晶振公司使用非接触方法更准确地测量振荡频率.
电路上晶体振荡频率的测量图像如下所示.
如先前所介绍的(晶振振荡频率差概述),振荡频率的差异由下式表示,因此测量目标是a和b.
dF：电路上的晶体振荡器振荡频率与参考频率
F 之间的差值：参考频率
a：指定负载电容下的晶体振荡器振荡频率CL
b：电路上的 晶体振荡器振荡频率
1、“a：在指定负载容量CL下的晶体振荡器振荡频率”的测量方法
<概述>使用
网络分析仪和负载容量CL夹具,以下测量程序(当NDK晶体振荡器安装在基板上时*按照步骤1)测量实验晶体单元的频率.
(*1)如果板上没有安装NDK晶振产品,请准备适当的NDK晶体单元并将其用作实验晶体单元.
<测量程序>
(1)用烙铁拆下安装在电路板上的石英贴片晶振单元.
(2)去除附着在石英晶体单元上的多余焊料后,等到晶体单元达到室温.
(3)将晶体单元设置在负载容量CL jig中(负载容量CL jig的容量是规格中指定的负载容量CL).
(4)在网络分析仪上设置负载容量CL jig,并根据网络分析仪手册测量晶体单元的频率.
2、“b：电路上的晶体振荡器振荡频率”的测量方法
<概述>将实验石英晶振,晶体振荡器安装在基板上,并且使用以下测量程序在指定的温度条件下测量振荡频率.
<测量程序>
(1)使用烙铁等将实验晶振晶体单元安装在基板上.
(2)在将晶体单元及其周围环境稳定在指定温度之后,晶体单元振荡,并且天线以非接触方式获取振荡信号*2.
(3)由天线扩展的振荡信号由放大器放大到可由频率计数器稳定测量的信号电平.
(4)用频率计测量晶振晶体的振荡频率.
(*2)当通过使电压探针与振荡电路接触来测量振荡频率时,电压探针的电容增加并且振荡电路电容改变,这影响振荡频率.NDK晶振公司使用非接触方法更准确地测量振荡频率.
电路上晶体振荡频率的测量图像如下所示.
晶体振荡器振荡频率的测量图像在电路上
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